CPK分析（工序能力分析）是我們應(yīng)用SPC工具的重要分析方法之一，但是如何解讀CPK分析的數(shù)據(jù)也變得非常重要，否則即使分析出圖形結(jié)果出來了，也沒有太大的作用。以下我們就從兩方面來解釋如何對數(shù)據(jù)及圖形進行分析，首先我們需要查看數(shù)據(jù)的分布，即查看直方圖的分布，正常的分布應(yīng)該如下圖所示，呈一個鐘型的分布，中間高，兩邊低。如果是其它的分布圖形，則說明數(shù)據(jù)可能出現(xiàn)了問題，如混入了兩批物料的雙峰型，陡峭型，離島型，這些都是異常的圖形。
第二我們需要能夠正確解讀相關(guān)的計算結(jié)果數(shù)值，如下表所示：
總樣本數(shù)：參與分析的數(shù)據(jù)的個數(shù)。
子組大小：這個與計算組內(nèi)的cpk值有非常大的關(guān)系，即是分組的樣本個數(shù)，數(shù)據(jù)的分組在此處需要說明的是，必須是根據(jù)實際情況來填寫，比如每次抽樣為5個，那么子組大小就為5個，我們不能隨心所欲地任意填寫這個值，否則將沒有實際的意義。
圖表類型：說明進行分析的控制圖的類型，此處為XR控制圖。
平均值：所有樣本數(shù)據(jù)的平均值；
最大值：所有樣本數(shù)據(jù)的最大值；
最小值：所有樣本數(shù)據(jù)的最小值；
上規(guī)格：用戶錄入的上規(guī)格值；
目標(biāo)值：用戶輸入的目標(biāo)值，即期望達到的中心值；
下規(guī)格：用戶輸入的下規(guī)格值；
+3Sigma：正的3倍標(biāo)準(zhǔn)差線；
-3Sigma：負的3倍標(biāo)準(zhǔn)差線；
STDEV：標(biāo)準(zhǔn)差值，分為組內(nèi)及整體標(biāo)準(zhǔn)差值；
CPK：工序能力指數(shù)，與規(guī)格值及上述標(biāo)準(zhǔn)差值相關(guān)聯(lián)，也分為組內(nèi)及整體的標(biāo)準(zhǔn)差值；
CP：Cp值是衡量過程滿足產(chǎn)品品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的程度，也叫制程精密度，Cp值越大，表示過程變異越小，過程能力越差；
CPL：相對應(yīng)于下規(guī)格值的工序能力值；
CPU：相對應(yīng)于上規(guī)格值的工序能力值；
PPM<LSL：預(yù)測的低于下規(guī)格值的不合格品數(shù)（PPM - 百萬分之比）；
PPM>USL：預(yù)測的超過上規(guī)格值的不合格品數(shù)（PPM - 百萬分之比）；
PPM Total：預(yù)測的總的不合格品數(shù)；
CA： 制程準(zhǔn)確度，值越小越好。
